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제목 스마트카드 IC칩 취약성 분석 기술 분야, 상호 협력
담당자 기술보증팀  손경호 Tel.02-405-5321  이메일
등록일 2008-06-26 조회수 10348
첨부파일 NNFC_KISA_상호협력-_-1214456668560.jpg    첨부파일 미리보기
- KISA, 25일 나노종합팹센터(NNFC)와 상호협력 협약 체결

한국정보보호진흥원(KISA, 원장 황중연)은 25일 대전 유성구에서 나노종합팹센터(NNFC, 소장 이희철)와 스마트카드 IC 칩 시험ㆍ취약성 분석 기술 관련 연구협력 및 정보교류 등에 대한 포괄적인 협약을 체결했다.

이번 협약을 통해 양 기관은 스마트카드 IC칩 시험ㆍ취약성 에 필요한 원천기술을 공동으로 확보해 나갈 수 있는 협력 모델을 마련하였다. KISA는 소프트웨어 평가역량을 스마트카드 IC칩을 포함한 하드웨어로 확대할 수 기반을 확보하게 되고, NNFC은 나노기술이 요구되는 IC칩 구조 분석 기술을 스마트카드 IC칩에 확대 적용하기 위한 연구를 수행하게 된다.

주요 협력 분야는 △스마트카드 IC칩 기술 관련 정보 교환, △스마트카드 IC칩 시험 및 취약성 분야의 연구 협력, △기타 하드웨어 시험평가 관련 연구 협력 부분이다.

이번 협약으로 양 기관은 개인정보보호의 중요성과 함께 수요가 커지고 있는 스마트카드 IC칩에 대한 시험ㆍ취약성 분석 기술을 확보할 수 있는 계기를 마련하게 되었고, 이를 토대로 점증적으로 국외에 의존하고 있는 스마트카드 IC칩 평가기술의 자립도를 높이는데도 크게 기여할 것으로 기대한다.

※ 나노종합팹센터(NNFC:National Nanofab Center, www.nnfc.com)는 2001년 설립되어, 반도체 공정 기술, 나노 융합기술, 특성 평가 등에 대한 시험 및 연구를 중점적으로 하는 KAIST내 부설기관임.

<사진설명>
노병규 한국정보보호진흥원 보안성평가단장(오른쪽)은 25일 대전시 유성구 나노종합팹센터(NNFC)에서 이희철 나노종합팹센터(NNFC) 소장과 스마트카드 IC 칩 시험ㆍ취약성 분석 기술 관련 연구협력 및 정보교류 등에 대한 포괄적인 협약을 체결했다.
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